MESUREXPOVISION
Le Congrès International de Métrologie
est organisé autour de 6 tables rondes industrielles et 180 conférences techniques.
Programme détaillé et inscription sur : http://www.metrologie2011.com/
Le mot du Collège Français de Métrologie
Le Collège Français de Métrologie s’engage dans un projet novateur et ambitieux : Mesurexpovision et le Congrès International de Métrologie seront organisés conjointement du 3 au 6 octobre 2011 à Paris, Porte de Versailles.
Mesurexpovision est le salon de référence des professionnels de la mesure, du test et des solutions de vision en France.
Le Congrès International de Métrologie, unique en Europe, est le lieu d’échanges techniques sur la mesure entre experts, organismes, fabricants et utilisateurs industriels.
Le contexte général d’aujourd’hui, entre crise économique et agenda surbooké, nécessitait de réfléchir à un montage innovant : les deux événements, tout en gardant leur identité, vont mettre en place une zone commune sur l’exposition, symbole de ce rapprochement. Ainsi un Village Métrologie sera ouvert en juxtaposition des salles de conférences : les exposants habituels du Congrès pourront y retrouver les conditions de participation qu’ils ont connues lors des éditions précédentes du Congrès.
Le Congrès conserve ses objectifs de haut niveau qui en font sa renommée : un contenu technique couvrant toutes les grandeurs, la diffusion de connaissances et de savoir-faires.
Les avantages d’un tel montage sont indéniables :
- une multiplication des contacts pour les exposants qui auront la possibilité d’être en relation non seulement avec les participants du Congrès mais aussi avec tous les visiteurs de Mesurexpovision,
- une offre plus large pour les auditeurs du Congrès qui navigueront librement sur toute l’exposition.
Ce rassemblement est ainsi l’occasion de proposer à l’ensemble de la profession, sur un même lieu et aux mêmes dates, une offre économique et responsable, cohérente et complète »
Pierre CLAUDEL, Président du Collège Français de Métrologie
Antonio MAZZEI, Président du Congrès International de Métrologie
Les conférences techniques : La Mesure : avec, ou sans contact ?
C’est sur le stand Symop G29 vous pourrez assister à des conférences gratuites de 20 minutes sur des thèmes très variés tels que la mesure tridimensionnelle par tomographie Rayons X, la vidéo rapide en milieu industriel, l’inspection de corrosion externe sur pipeline grâce au scanner laser 3D, la mesure de géométrie et de défauts d’aspect des formes intérieures, ou encore, comment la mesure sans contact peut remplacer la mesure avec contact, le mariage de la 3D et de la couleur, la mesure de géométrie et de défauts d’aspect des formes intérieures, l’analyse optique 3D des paramètres des outils de coupe, quels capteurs choisirent, avec ou sans contact…
Mardi 4 octobre
| 10h30-10h50 | Une nouvelle technique à la ponte de la technologie ECT: des capteurs à courant Foucault pour des hautes températures allant jusqu'à 350°C | MICRO-EPSILON |
| 11h00-11h20 | Des contrôles non destructifs plus faciles : apport des imageries ultrasonores, rayon X et thermographiques | CETIM |
| 11h30-11h50 | La vidéo rapide appliquée en milieu industriel | PHOTON LINES |
| 12h00-12h20 | Inspection de Corrosion Externe sur Pipeline avec un Scanner Laser 3D | CREAFORM |
| 12h30-12h50 | La mesure de géométrie et de défauts d'aspect des formes intérieures: forages et alésages | MS3D |
| 14h00-14h20 | Analyse 3D optique des paramètres des outils de coupe | ALICONA |
| 14h30-14h50 | La mesure tridimensionnelle par tomographie Rayons X | WERTH |
| 15h00-15h20 | Le mariage de la 3D et de la couleur | GIPS VISION |
Mercredi 5 octobre
| 10h30-10h50 | Capteurs de déplacement avec ou sans contact: Plus qu'un duel ! | AMETEK |
| 11h00-11h20 | L’interférométrie laser dans l’industrie | RENISHAW |
| 11h30-11h50 | La mesure de géométrie et de défauts d'aspect des formes intérieures: forages et alésages | MS3D |
| 12h00-12h20 | Quand la machine sans contact remplace les machines de mesure avec contact | VISIONIC |
| 12h30-12h50 | La mesure tridimensionnelle par tomographie Rayons X | WERTH |
| 14h00-14h20 | Inspection de Corrosion Externe sur Pipeline avec un Scanner Laser 3D | CREAFORM |
| 14h30-14h50 | Une nouvelle technique à la ponte de la technologie ECT: des capteurs à courant Foucault pour des hautes températures allant jusqu'à 350°C | MICRO-EPSILON |
| 15h00-15h20 | La vidéo rapide appliquée en milieu industriel | PHOTON LINES |
| 15h30-15h50 | Des contrôles non destructifs plus faciles : apport des imageries ultrasonores, rayon X et thermographiques | CETIM |
Jeudi 6 octobre
| 10h30-10h50 | Le mariage de la 3D et de la couleur | GIPS VISION |
| 11h00-11h20 | Analyse 3D optique des paramètres des outils de coupe | ALICONA |
| 11h30-11h50 | Quand la machine sans contact remplace les machines de mesure avec contact | VISIONIC |
| 12h00-12h20 | L’interférométrie laser dans l’industrie | RENISHAW |
| 12h30-12h50 | Capteurs de déplacement avec ou sans contact: Plus qu'un duel ! | AMETEK |
Journée Chimie et physique pour le futur
Une journée de conférences organisée par la Division de Chimie Physique commune à la Société Chimique de France (SCF) et à la Société Française de Physique (SFP) à l’occasion de l’Année Internationale de la Chimie.
Mercredi 5 octobre - Mezzanine 3 - Salle AQUILA
Les Nations unies ont proclamé 2011 Année internationale de la chimie (AIC), événement mondial qui doit montrer le rôle prééminent de la chimie dans les activités humaines.
En France, de nombreuses manifestions sont donc organisées pour renforcer le dialogue entre chimie et société et aujourd’hui, la Division de Chimie Physique a souhaité organiser une journée à l’interface des deux disciplines, chimie et physique.
- 9h00 - 9h30 Accueil café
- 9h30 - 9h40 Ouverture. Martial Ducloy (Président de la SFP), Stanislas Pommeret (Président de la DCP)
- 9h40 - 10h10 De la genèse rationnelle aux applications sociétales des solides poreux hybrides. Gérard Férey
- 10h10 - 10h40 Chimie de surface et biocatalytique. Serge Palacin
- 10h40 - 11h10 Chimie et stockage de l’énergie. Jean-Marie Tarascon
- 11h10 - 11h40 Chimie et photovoltaïque. Jean Roncali
- 11h40 - 12h10 Chimie et énergie nucléaire. Philippe Garderet
- Déjeuner libre sur le salon
- 14h30 - 15h00 Les défis de la Chimie. Régis Réau
- 15h00 - 15h30 Chimie et matière molle. Dominique Langevin.
- 15h30 - 16h00 Chimie et interaction rayonnement-matière. Jacqueline Belloni
- 16h00 - 16h30 Chimie et art. Philippe Walter
- 16h30 Conclusions. Olivier Homolle (Président de la SCF)
- 16h50 Remise du prix d’Instrumentation de la Division de Chimie Physique commune à la Société Chimique de France et à la Société Française de Physique.
Comité d’organisation : Badia Amekraz, Valérie Cabuil, Nelly Lacome, Valérie Marchi-Artzner, Jean-Claude Mialocq, Stanislas Pommeret, Anne Zehnacker-Rentien
Pour plus d’informations : http://sfp.in2p3.fr/expo/
- Programme détaillé et inscription, cliquez ici
La supraconductivité : maintenant et pour l'avenir
Une journée de conférences organisée par le CNRS, le CEA et la SFP à l’occasion des cent ans de la supraconductivité.
Mardi 4 octobre - Mezzanine 3 - Salle AQUILA
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Journée inaugurale du club Nanométrologie
Jeudi 6 octobre - Mezzanine 3 - Salle AQUILA
Journée organisée par le Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE) en partenariat avec le Centre de Compétences Nanosciences (C’Nano) et la SFP
- Le développement des nanosciences et des nanotechnologies nécessite de se doter d’outils capables de mesurer les propriétés de la matière à des échelles nanométriques. Cette instrumentation adaptée exige le développement d’une nouvelle métrologie, la nanométrologie, qui se distingue de la métrologie traditionnelle par son aspect multidisciplinaire et qui nécessite l’émergence de nouveaux concepts. De plus, la mise sur le marché de nombreux produits de consommation contenant des nanomatériaux pose la question de leur régulation et des risques possibles en matière de santé et d’environnement.
- Dans ce contexte, le développement de nouveaux instruments, de matériaux de référence, de méthodologie et l’établissement de la traçabilité des mesures permettraient de rendre comparables les données provenant de différents laboratoires. Le club monté en partenariat par le LNE et le C’Nano aura pour vocation de créer un réseau de nanométrologie au niveau national. Il permettra de recueillir et préciser les besoins industriels et d’établir une passerelle entre le monde industriel et le monde académique par la mise en commun de problématiques métrologiques dans tous les domaines que recouvrent les nanosciences et les nanotechnologies.
- 9h15 Accueil café
- 9h45 Daniel Bernard (Arkema). NanoMétrologie : la clef du développement industriel des matériaux avancés
- 10h15 Johann Foucher (CEA-LETI). La métrologie de dimensions critiques dans l'industrie du semiconducteur - L'ère de la métrologie hybride démarre
- 10h45 Présentation du club nanoMet
- 11h15 Présentation des trois groupes de travail
- 14h00 Jean Jacques Greffet (Institut d’Optique). Conductance thermique et conductance électrique à l'échelle du nanomètre
- 14h30 Jorge Boczkowski (INSERM). Effets toxicologiques des nanomatériaux
- 15h00 Sébastien Ducourtieux (LNE). AFM métrologique au service de la nanométrologie dimensionnelle
- 15h30 Table ronde
Contacts : François Piquemal (LNE), Ariel Levenson (C’Nano), Jean-Claude Mialocq (SFP et C’Nano Ile-de-France)
Pour plus d’informations : http://sfp.in2p3.fr/expo/
- Programme détaillé et inscription, cliquez ici
Journée Contrôle non destructif
Une journée de conférences organisée par la Société Française de Physique (SFP) sur le CND.
Jeudi 6 octobre - Mezzanine 3 - Salle PHENIX
Coordonnateurs et présidents de session : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne
Ardenne, Reims) et Michel Boivineau (CEA, DAM/ISENDé, Bruyères-le-Châtel)
- 9h00 - 9h30 Accueil
- 9h30 - 9h40 Ouverture. Martial Ducloy (Président de la SFP), Jean-Luc Bodnar
- 9h40 - 10h10 Contrôle non destructif par thermographie infrarouge. Jean Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne)
- 10h10 - 10h40 Le contrôle des matériaux par terahertz. Jean-Jacques Metayer (VISIOM)
- 10h40 - 11h10 Caractérisation des matériaux par LIBS. Vincent Detalle (Laboratoire de Recherche des Monuments Historiques)
- 11h10 - 11h40 Collecte et analyse 3D d'altérations de surfaces par photomodélisation. Livio de Luca (Map, Marseille)
- 11h40 - 12h10 Photographie numérique scientifique. Jean Marc Vallet et Odile Guillon (CICRP)
- Déjeuner libre sur le salon
- 14h30 - 15h00 Contrôle santé des structures par capteurs à fibres optiques. Pierre Ferdinand (CEA LIST, Laboratoire de Mesures Optiques, Saclay)
- 15h00 - 15h30 Les contrôles non destructifs au CEA Valduc : des expertises qui commencent là où les contrôles traditionnels s’arrêtent. Nicolas Fremy (CEA, DFTN, Is-sur-Tille)
- 15h30 - 16h00 Applications industrielles des CND. Jacques Bouteyre (ASTRIUM)
- 16h00 - 16h30 Les nouveaux CND pour l’industrie mécanique. Henri Walaszek et Samuel Maillard (CETIM)
- 16h30 Conclusions
Comité d’organisation : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne), Michel Boivineau (CEA, DAM/ISENDé), Jean-Claude Mialocq (CEA Saclay, DSM, IRAMIS)
Pour plus d’informations : http://sfp.in2p3.fr/expo/
- Programme détaillé et inscription, cliquez ici
Avant-première Présentation de Metrolog X4
Atelier exposant: METROLOGIC GROUP
Mercredi 5 octobre - Mezzanie 3 - Salle Phoenix
Venez découvrir la dernière génération de logiciel de mesure 3D
Intervenant: Charles Carbillet - Chef de produit Metrologic Group
- 10h15 - 12h Session matinée
- A partir de 12h15 Buffet cocktail
- 13h45 - 15h30 Session après-midi
OPTO
La filière photonique et GL events s’associent pour la seconde année consécutive, et retrouvent le Parc des Expositions de la Porte de Versailles en octobre pour l’édition 2011 d’OPTO.
Les conférences de ce nouveau rendez-vous de l’optique photonique sont animées par PRI Photon Recherche Industrie stand L67, dans la dynamique de l’édition 2010.
Le bilan de 2010 était déjà très positif : 120 exposants, près de 2000 visiteurs (dont 580 congressistes). L’édition 2011 est très prometteuse grâce à la concomitance des autres salons MESUREXPOVISION et ESPACE LASER ainsi qu'une communication consacrée à la photonique pour une meilleure visibilité ; une série de conférences et de rendez-vous faisant de OPTO-PRI le lieu de rencontre incontournable de la filière.
Photon Recherche Industrie se réjouit de cette organisation commune avec son partenaire GL events.
Le succès de 2011 permettra d’ancrer l’événement dans nos agendas, à l’automne, Porte de Versailles et sonnera un nouveau départ pour le développement d’un OPTO-PRI de dimension internationale.
- Cette année encore PRI propose, conjointement à l’exposition OPTO, plusieurs rendez-vous sur l’optique photonique.
- Des manifestations et débats, des conférences scientifiques et industrielles, ainsi que des remises de prix offriront un regard sur l’actualité de la filière.
- Déjà au programme, la 6ème Journée du Club SFO “Systèmes Optroniques pour l’Observation et la Surveillance”.
- Ces rendez-vous s’adressent à tous les acteurs : industriels, académiques, économiques.
L’association PRI - PHOTON Recherche Industrie a pour ambition de fédérer les professionnels de la filière optique photonique afin de favoriser les échanges entre recherche et industrie, nourrir le réseau et dynamiser le business.
PRI est une initiative de l’AFOP, le syndicat professionnel optique photonique et de la SFO, Société Française d’Optique.
6ème Journée du Club SOOS: "Quelques défis en métrologie pour l'optronique"
Mardi 4 octobre
Le Club SOOS, Systèmes Optroniques pour l'Observation et la Surveillance, est un club commun à la SFO, Société Française d'Optique, et la SEE, Société de l'Electricité, de l'Electronique et des Technologies de l'Information et de la Communication.
La mission de ce club est de favoriser les échanges de connaissances scientifiques et techniques entre la recherche et l’industrie en organisant diverses manifestations scientifiques : journées d’études, colloques thématiques ouverts à tous et définir les besoins en formation du domaine (initiale et continue).
Le Club SOOS organise sa 6ème Journée d'études "Quelques défis en métrologie pour l'optronique" au sein de l'exposition OPTO dans la salle PRI.
Les Politiques et Projets Photonique en France et en Europe
Mercredi 5 octobre en matinée
Cette Table Ronde d'échanges sur les politiques et projets photonique en France et en Europe est ouverte à l’ensemble des visiteurs.
Animée par Alain Diard, Président du CNOP - Comité National Optique Photonique
Présentation des Projets d'Excellence CILEX et PETAL- Témoignages d'entreprises"Défis et opportunités industriels"
Mercredi 5 octobre en après-midi
Présentation des projets d'Equipements d'Excellence qui concernent directement la filière optique photonique: CILEX et PETAL+ et présentation du Grand Projet ITER à travers les défis et opportunités que ces projets supposent pour les industriels français.
Session ouverte à l’ensemble des visiteurs.
Workshop: "Atomes Froids et applications" de l'IFRAF
Remise du Prix "Jeune chercheur" de l'IFRAF
Jeudi 6 octobre en après-midi
Ouvert à tous les visiteurs.
Le Prix "jeune chercheur" de l’IFRAF sera décerné à l’occasion de ce worshop puis suivi d'une conférence du lauréat.
